Vertiefung zur Oberflächentopographie

Nächste Termine:

Aufbauend auf dem Grundlagenseminar Oberflächentopographie werden in diesem Seminar die Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächenstrukturen vertieft. Sie beschäftigen sich mit weiteren 2D-Kennwerten sowie mit 3D-Oberflächenparametern, die sich zunehmend in der Industrie verbreiten. Zu deren Berechnung werden die Oberflächenstrukturen mit optischen Messmethoden erfasst. Das ermöglicht eine dreidimensionale und somit vollständige Charakterisierung der Topographie. Dadurch lässt sich die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche passgenau mit funktionsgerechten Kennwerten beschreiben. Der Umgang mit den Sonderfällen der Oberflächenmessung wird erläutert, z.B. die Themen starke Formabweichungen, kurze Messstrecken, Oberflächenfehler und Drallstrukturen von Wellen. Abschließend werden die Auswirkungen gängiger Fertigungsverfahren auf die Oberflächenmikrostruktur und somit auf die funktionalen Eigenschaften dargestellt.

Ziel der Weiterbildung

Sie lernen spezielle Kennwerte zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen kennen und üben den Umgang mit Sonderfällen der Oberflächenmessung. Im Seminar wird die optische Oberflächenmessung behandelt sowie die Bedeutung der 3D-Oberflächen-Parameter erläutert. Die Teilnehmer:innen werden in die Lage versetzt, funktionsrelevante Kennwerte 2D und 3D zielgerichtet auszuwählen, diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben, Messungen von Oberflächen selbst durchzuführen, sowie deren Ergebnisse qualifiziert zu beurteilen.

HINWEIS
Dieses Seminar ist Bestandteil des Zertifikatslehrgangs „Oberflächen Spezialist (TAE)“ – www.tae.de/60163 – und kann einzeln gebucht werden.

Referenten

Dr. Stefan J. Eder
AC2T research GmbH, Wiener Neustadt (Österreich)

Dr. Martin Jech
AC²T research GmbH, Linz Österreich)

Ihre Ansprechpartnerin

Heike Baier
anmeldung@tae.de
Telefon: +49 711 34008-23
Telefax +49 711 34008-27