Vertiefung zur Oberflächentopographie

Nächste Termine:

Veranstaltungsort:

Technische Akademie Esslingen
An der Akademie 5
73760 Ostfildern

Mikrostruktur, Messung und Definition von Oberflächen 2D und 3D

Heutzutage ermöglicht eine umfassende Auswahl von Kennwerten die funktionsgerechte Charakterisierung der Beschaffenheit von Oberflächen. In diesem Seminar werden die wichtigsten Kennwerte 2D/3D und Kennkurven zur Charakterisierung der Eigenschaften von Oberflächen erläutert. Leider wird oftmals versucht die komplexe Mikrostruktur einer Oberfläche mit einem einzigen Kennwert zu beschreiben. Dies ist nicht möglich und hier schaffen die Normen durch passgenaue Kennwerte für bestimmte Merkmale Abhilfe.

Die ISO-konformen Messbedingungen sind Voraussetzung, um vergleichbare Ergebnisse zu erzielen. Hierzu gehört die Wahl des richtigen Filters, der Grenzwellenlänge und der Messstrecke. Aber auch die Angabe der Messstrategie gehört zur eindeutigen Prüfung von Oberflächen dazu. Häufig stehen die Angaben der Beschaffenheit von Oberflächen am Symbol nicht im Einklang mit der internationalen ISO-Normung. Hierdurch können erhebliche Qualitätskosten und Unstimmigkeiten verursacht werden.

Nutzen und Ziele

Ziel des Seminars ist es einen Überblick über alle Themen zur Charakterisierung und Messung von Oberflächen zu geben. Damit werden die Teilnehmer*innen in die Lage versetzt funktionsrelevante Kennwerte auszuwählen, diese normkonform am Oberflächenzeichen anzugeben und Messungen von Oberflächenstrukturen durchzuführen bzw. die Ergebnisse zu beurteilen.

Teilnehmerkreis

Dieses Seminar richtet sich an Entwickler, Konstrukteure, Fertiger, Messtechniker und Mitarbeiter der Qualitätssicherung, die sich vertiefend mit der Definition und Messung der Oberflächengüte beschäftigen.

Referenten

Prof. Dr.-Ing. Dietmar Schorr
Duale Hochschule BW Karlsruhe

Ihre Ansprechpartnerin

Heike Baier
anmeldung@tae.de
Telefon: +49 711 34008-23
Telefax +49 711 34008-27